新聞要點(diǎn)
       NI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）憑借其快速自動(dòng)化測(cè)量、功能強(qiáng)大的儀器結(jié)構(gòu)和經(jīng)簡(jiǎn)化的測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)過程，可降低測(cè)試成本。
       新的NI PXI Express模塊集成了高級(jí)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)量功能，形成基于PXI的測(cè)試系統(tǒng)，其中包括了高精度直流、高速模擬和數(shù)字測(cè)量等應(yīng)用
       2012年12月，美國(guó)國(guó)家儀器公司（National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI）近日發(fā)布了NI NI PXIe-5632 VNA，它經(jīng)進(jìn)一步優(yōu)化，可幫助工程師滿足日益復(fù)雜的射頻測(cè)試要求，而其成本、尺寸和使用所需時(shí)間僅是傳統(tǒng)堆疊式解決方案的極小一部分。 新的PXIe VNA基于創(chuàng)新型的雙源架構(gòu)，頻率范圍為300 kHz至8.5 GHz，擁有獨(dú)立調(diào)整的源代碼和源接入循環(huán)，可適用于眾多不同的測(cè)量應(yīng)用。
      “NI在射頻和微波儀器上持續(xù)大力投入，將PXI的應(yīng)用領(lǐng)域擴(kuò)大至高端應(yīng)用。”NI射頻研究和開發(fā)副總裁Jin Bains表示， “NI PXIe-5632矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功能豐富，可顯著降低網(wǎng)絡(luò)測(cè)量成本，尤其是針對(duì)那些需要高度精確、快速和小封裝測(cè)量的大批量自動(dòng)化測(cè)試的應(yīng)用。”

產(chǎn)品特征
       雙端口，3槽PXI Express矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，頻率范圍為300 kHz至8.5 GHz 。
       功率范圍較寬，為-30dBm到+15 dBm，調(diào)節(jié)步長(zhǎng)為0.01dB，用于測(cè)量有源設(shè)備的壓縮和S-參數(shù)。  
       帶有源接入循環(huán)的雙源架構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)脈沖S參數(shù)測(cè)量和擴(kuò)展源功率范圍。
       頻偏功能使用獨(dú)立調(diào)整的源代碼，實(shí)現(xiàn)對(duì)頻率轉(zhuǎn)換器件和熱S-參數(shù)的測(cè)量。
       通過NI LabVIEW、ANSI C和.NET等行業(yè)領(lǐng)先的編程接口，可簡(jiǎn)化編程并加快測(cè)試開發(fā)速度，同時(shí)保證射頻測(cè)量質(zhì)量。
       欲知更多，請(qǐng)?jiān)L問http://www.ni.com/vna/zhs/。
關(guān)于NI
       自1976年以來，美國(guó)國(guó)家儀器，簡(jiǎn)稱NI(www.ni.com）一直致力于為工程師和科學(xué)家提供各種工具來提高效率、加速創(chuàng)新和探索。NI的圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺(tái),有助于加速測(cè)量和控制系統(tǒng)的開發(fā)。長(zhǎng)期以來，NI一直期望并努力通過自身的技術(shù)來改善社會(huì)的發(fā)展，確?？蛻?、員工、供應(yīng)商及股東獲得成功。
       LabVIEW、National Instrument、NI和ni.com為美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments）的商標(biāo)。 此處提及的其它產(chǎn)品和公司名稱均為其各自公司的商標(biāo)或商業(yè)名稱。