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日本TAKEX竹中晶片映射傳感器ASW-SG125VF

產(chǎn)品概述：

?穩(wěn)定檢測SiC晶片、藍寶石晶片、硅晶片、半透明晶片等

?支持6812英寸晶片

?支持半透明晶片的檢測模式裝備( 812英寸用)

?防止梳部靜電破壞( 6812英寸用)

產(chǎn)品規(guī)格：

檢測對象：晶片種類12英寸晶片

（正常模式：透射率30%以下/鎖存模式：透射率70%以下）

檢測通道數(shù)：25ch

間距：10mm

檢測方式：透過型

操作電源：DC12～24V±10%

波紋：10%以下

功耗：1.9W以下

動作模式：暗開

輸出正常模式/輸出鎖存模式切換動作（開關(guān)切換）

異常輸出：異常時ON

輸出模式：NPN開路集電極輸出

額定：漏電流30A（DC30V）以下

響應(yīng)時間：35ms以下

投光用光源（波長）：紅外LED（870nm）

投光停止輸入再示教兼用：

開路集電極輸入或接點輸入投光停止ON:1.5V以下OFF：4V以上

輸出正常模式：ON時停止投光/OFF時再次示教

輸出鎖存模式：ON時輸出鎖存解除及投光停止/OFF時再示教

輸出停止輸入：

開路集電極輸入或接點輸入

輸出停止ON:1.5V以下OFF：4V以上

連接方式：連接器式歐姆龍MIL連接器XG4A-3031

材質(zhì)：傳感器單元（梳）：聚碳酸酯、外殼：鋁

重量：約270g（電纜除外）

附件：使用說明書

使用環(huán)境溫度：-10～＋55℃（未結(jié)冰）

使用環(huán)境濕度：35～85%RH（非冷凝）

保護結(jié)構(gòu)：IP40

耐振動：10～55Hz雙振幅0.5mmX、Y、Z方向各2小時

耐沖擊：300m/s2X、Y、Z方向各3次

相關(guān)型號：

ASW-SG625AP

ASW-SG85F

ASW-SG85F-Y05

ASW-SG86F

ASW-SG86F-Y05