邀請函 | 蔡司助力電子行業(yè)創(chuàng)新升級,誠邀您共襄中國光博會盛會
光電子器件是光電子技術(shù)的關(guān)鍵和核心部件,是現(xiàn)代光電技術(shù)與微電子技術(shù)的前沿研究領(lǐng)域,是信息技術(shù)的重要組成部分,具有低功耗、高速率、高可靠、小體積等突出優(yōu)勢。光電子器件應(yīng)用范圍十分廣闊,如家用攝像機(jī)、手機(jī)相機(jī)等等,其使用范圍難以勝數(shù),是一個(gè)巨大的產(chǎn)業(yè)。
為了響應(yīng)市場需求,蔡司將于9月11日至13日在深圳參展第二十五屆中國國際光電博覽會。蔡司誠邀各界專家、學(xué)者、合作伙伴及客戶蒞臨展會,共同交流探討光電子技術(shù)的最新發(fā)展與應(yīng)用,期待與您攜手掌控質(zhì)量,共創(chuàng)光電子技術(shù)的美好未來。
邀請函
第二十五屆中國國際光電博覽會
時(shí)間:9月11日- 13日
地點(diǎn):深圳國際會展中心(寶安新館)
展位號:3B 53
本場展會蔡司解決方案提前通知!
復(fù)合式質(zhì)量解決方案
聚焦光電領(lǐng)域 | O-INSPECT 863 duo (2024年新款)
多測頭量測帶來 PCB/Pin 針測量解決方案
優(yōu)勢:
? 大臺面復(fù)合式測量設(shè)備
? 高分辨率彩色光學(xué)測量系統(tǒng)
? 全自動計(jì)量和檢測、成像和記錄多個(gè)部件。
? 三維尺寸、形位公差測量和缺陷檢測
? 蔡司ZVP可縮短圖像采集時(shí)間,測量速度提高 44%
? 兩款專用軟件
影像質(zhì)量解決方案
O-DETECT 手機(jī)中框檢測解決方案
線邊影像量測 ZEISS O-DETECT 322
優(yōu)勢:
? 卓越的蔡司鏡頭系統(tǒng)
? 可變換的環(huán)形光
? 全景相機(jī)
? 穩(wěn)定的精度
? Smart Visual Meas軟件便利性
? 專業(yè)的PiWeb報(bào)告
光學(xué)儀器檢測方案 | CONTURA
高性能三坐標(biāo)測量機(jī) CONTURA 7106+VAST XXT
優(yōu)勢:
? 小特征多角度,可以利用XXT TL3最小可以攜帶0.3mm探針 ,同時(shí)利用RDS功能2.5度的步進(jìn)角度進(jìn)行空間多角度測量
? CALYPSO的元素自動策略設(shè)置,加快檢測程序編輯,包括程序元素位置的自動優(yōu)化排序,適用于對電子連接器的檢測。
顯微分析質(zhì)量解決方案
光學(xué)數(shù)碼顯微鏡 | Smartzoom 5
挑戰(zhàn):
? PCB表面結(jié)構(gòu)復(fù)雜
? 小至微米級尺寸的缺陷
? 缺陷可能分布于工件表面不同部位
使用Smartzoom 5檢測PCB的優(yōu)勢:
? 全電動化部件設(shè)計(jì)
? 十倍變倍的高品質(zhì)蔡司鏡頭
? 可左右傾斜觀察的支架
? 多種照明方式
更有 #HandsOnMetrology 系列展出,提供蔡司藍(lán)光手持式系列產(chǎn)品在光電子行業(yè)應(yīng)用的展示;
ZEISS ATOS Q
? 結(jié)構(gòu)光投影技術(shù)
? 半自動掃描
? 適用不同尺寸零件
? 三重掃描功能
METROTOM系列數(shù)據(jù)重構(gòu)從投影至三維體積數(shù)據(jù)
我們誠摯邀請您前來蔡司展位(3B 53),與我們一同探索電子行業(yè)的最新技術(shù)突破和創(chuàng)新應(yīng)用。蔡司始終致力于推動行業(yè)進(jìn)步,此次展會將展示我們在電子領(lǐng)域應(yīng)用的最新成果。期待您的光臨,與我們共同展望電子行業(yè)的美好未來!
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